X-Rite, producent zaawansowanych rozwiązań w zakresie zarządzania barwą, jej pomiaru i komunikacji wizualnej, poinformowała o wprowadzeniu na rynek kolejnej generacji narzędzia NetProfiler. Umożliwia ono weryfikację, optymalizację oraz certyfikację ręcznych i stacjonarnych urządzeń do pomiarów spektrofotometrycznych. Program NetProfiler 3.0 pozwala na przeprowadzenie kalibracji spektrofotometru w różnych warunkach: w studiu graficznym, hali produkcyjnej bądź w dziale badawczo-rozwojowym. Dzięki temu uzyskiwany jest jeden wirtualny standard zapewniający, że pomiary kolorystyczne dokonywane zdalnie będą dokładne i niezawodne.
W ostatnich latach kolejne wersje programu NetProfiler firmy X-Rite stawały się standardami rynkowymi w branży poligraficznej i są z powodzeniem stosowane przez przedsiębiorstwa specjalizujące się w zadrukowywaniu tekstyliów, plastiku, opakowań oraz różnego rodzaju uszlachetnieniach. Narzędzia te wpływają na optymalizację pomiarów dokonywanych za pomocą spektrofotometrów stacjonarnych, które dość często wykorzystują nieaktualne dane. W nowej wersji, opatrzonej symbolem 3.0, program NetProfiler pozwala na pracę także z urządzeniami przenośnymi, wyposażonymi w opcję profilowania.
Jesteśmy niezwykle podekscytowani faktem wprowadzenia na rynek nowych rozwiązań spod znaku NetProfiler, dedykowanych na rynek spektrofotometrów ręcznych. Oznacza to bowiem możliwość profilowania nowych, wcześniej niedostępnych dla oprogramowania urządzeń i systemów workflow – mówi Richard Knapp, menedżer produktu ds. oprogramowania w firmie X-Rite. Jego zdaniem wszystkie wersje NetProfiler 3.0 oferują wyższą prędkość i stabilność pracy na komputerach osobistych i mogą być używane w trybie off-line w celu zachowania profili na przenośnych kartach pamięci USB.
Inną cechą programu NetProfiler 3.0 jest możliwość profilowania nowych serii urządzeń, choćby sferycznych typu Ci52, które są przeznaczone do zastosowań przemysłowych. Z myślą o użytkownikach spektrofotometru SpectroEye z branży poligraficznej, w programie NetProfiler 3.0 wprowadzono dedykowane rozwiązanie do profilowania, kompatybilne ze stosowanymi przez nich systemami workflow.
Zdaniem przedstawicieli firmy X-Rite, jej nowe narzędzie może być bardzo pomocne wielu klientom. Po pierwsze umożliwia ono uzyskiwanie specyficznych raportów, w szczegółowy sposób opisujących działanie urządzeń pomiarowych, prezentujących zgodność miejsca użytkowania i samego urządzenia, relacje między partnerami kolorystycznymi. Pozwala również na lokalne zatwierdzanie i certyfikację. Program dostarcza też właściwych metod dla wymiany porównawczych danych kolorystycznych pomiędzy partnerami biznesowymi z całego świata, używającymi różnych urządzeń pomiarowych. Oferuje także nowe, ceramiczne płytki do kalibracji, działające podobnie jak BCRA-II. Dzięki dwóm formatom zoptymalizowanym pod kątem spektrofotometrów - stacjonarnego i przenośnego – nowe media do kalibracji zapewniają znacznie lepszą jednolitość przestrzenną i poprawione działanie, zwłaszcza w przypadku urządzeń zawierających mniejsze szczeliny. Poprawione media do kalibracji pozwalają też na zredukowanie liczby standardów kolorystycznych, usprawniając cały proces profilowania.
Więcej informacji na temat narzędzia NetProfiler 3.0 można znaleźć na stronie internetowej firmy X-Rite pod adresem
http://www.xrite.com bądź kontaktując się z Richardem Knappem pisząc na adres
rknapp@xrite.com.
Na podstawie informacji PAI PrintinPoland.com
