STOWARZYSZENIE ABSOLWENTÓW INSTYTUTU POLIGRAFII POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ
zaprasza na 26 Poligraficzne Konfrontacje
JAKOŚĆ DRUKU OFFSETOWEGO A RÓŻNE PODŁOŻA PAPIEROWE
Moderator: STEFAN JAKUCEWICZ
Termin: 6 MARCA 2014
Miejsce: Sala konferencyjna Fundacji im. Stefana Batorego, Warszawa, ul. Sapieżyńska 10A
09.30 – 10.00 Rejestracja uczestników
10:00 – 10:15 PRZYWITANIE
10:15 – 11:00 WPŁYW PAPIERU NA JAKOŚĆ DRUKU OFFSETOWEGO
dr hab. inż. Stefan Jakucewicz
W wykładzie zostaną przedstawione cechy różnicujące papier stosowany do drukowania offsetowego ze względu na jego powierzchnię, sposób wykończenia powierzchni, chłonność powierzchniową oraz skład włóknisty.
11:00 – 11:15 Sesja pytań i odpowiedzi
11:15 – 11:30 Przerwa na kawę i herbatę
11.30 – 12.15 NOWE STANDARDY W POMIARACH SPEKTROFOTOMETRYCZNYCH
mgr inż. Andrzej Kunstetter
W prezentacji zostanie przedstawiony sposób uwzględniania w pomiarach spektrofotometrycznych krótkofalowej części widma. Zawartość wybielaczy optycznych w większości podłoży stosowanych do drukowania powoduje konieczność uwzględnienia tego zjawiska. Wiąże się to niekiedy z niekompatybilnością pomiarów wykonanych sprawnymi i poprawnie wycechowanymi przyrządami pomiarowymi.
12:15 – 12:30 Sesja pytań i odpowiedzi
12:30 – 12:45 Przerwa na kawę i herbatę
12.45 – 13.30 STANDARDY KOLORYMETRYCZNE W DRUKOWANIU OFFSETOWYM
dr inż. Konrad Blachowski
Podczas wystąpienia przedstawione zostaną główne właściwości odbitek nakładowych zawarte w normie ISO 12647-2 dotyczącej procesu drukowania offsetowego na różnych podłożach. Dodatkowo zostaną omówione pliki opublikowane przez Instytut FOGRA zawierające dane do charakteryzacji kolorymetrycznej procesu drukowania offsetowego na różnych podłożach, nominalnie zgodne ze wspomnianą normą. Poruszony zostanie również temat "standardowych" profili ICC i ich wykorzystania podczas przygotowywania cyfrowych materiałów źródłowych dla "offsetu".
13:30 – 13:45 Sesja pytań i odpowiedzi
13:45 – 14:00 Przerwa na kawę i herbatę
14:00 – 14:45 NOWE PODEJŚCIE DO PROGNOZOWANIA NADDATKÓW W DRUKOWANIU OFFSETOWYM NA RÓŻNYCH RODZAJACH PAPIERU
mgr inż. Jacek Hamerliński
W referacie zostaną podsumowane stosowane obecnie metody prognozowania naddatków w drukowaniu offsetowym oraz ich wady w przypadku stosowania nowoczesnych maszyn offsetowych wyposażonych w układy automatyki. Zaproponowana przez autora nowa metoda może być zastosowana do prognozowania naddatków w oparciu o dane z przeszłości, bądź też użyta jako źródło danych w systemach SKJ i zarządzania jakością.
14:45 – 15:00 Sesja pytań i odpowiedzi
15:30 Lunch i rozmowy indywidualne
Ok. 16:00 Zakończenie Konfrontacji
NOTKI BIOGRAFICZNE PRELEGENTÓW:
dr hab. inż. Stefan Jakucewicz
Absolwent Instytutu Papiernictwa i Maszyn Papierniczych Politechniki Łódzkiej oraz Instytutu Poligrafii Politechniki Warszawskiej. Nauczyciel akademicki w Politechnice Warszawskiej.
Specjalność materiałoznawstwo poligraficzne podłoża i farby drukowe. Kierunki badań - badanie nowych rodzajów papierów pod katem jakości druków oraz drukowanie tworzyw sztucznych.
mgr inż. Andrzej Kunstetter
Absolwent Instytutu Poligrafii Politechniki Warszawskiej. Specjalista ds. technologii komputerowych w poligrafii w zakresie zagadnień prepress oraz sterowania barwą. Autor wielu opracowań i wniosków racjonalizatorskich, związanych z wdrażaniem i wykorzystaniem nowych technologii w poligrafii. Autor wielu publikacji w prasie branżowej, stały uczestnik krajowych i międzynarodowych sympozjów i konferencji poligraficznych. Prowadzi szkolenia i wykłady dla kadry produkcyjnej, kierowniczej oraz studentów. Rzeczoznawca i biegły w dziedzinie poligrafii. Od 1998 roku związany zawodowo z firmą Heidelberg Polska Sp. z o.o., gdzie pracuje na stanowisku product managera.
dr inż. Konrad Blachowski
Absolwent Wydziału Matematyki Uniwersytetu Łódzkiego i Instytutu Poligrafii Politechniki Warszawskiej, doktor nauk matematycznych. Specjalista w zakresie kontroli jakości poligraficznych procesów technologicznych i systemów sterowania barwą reprodukcji (CMS). Prace badawcze z zakresu teorii barwy, spektrofotometrii i kolorymetrii. Wieloletnie doświadczenie dydaktyczne nabyte w Instytucie Poligrafii.
mgr inż. Jacek Hamerliński
Absolwent Politechniki Warszawskiej. Specjalista w zakresie technologii offsetowych i cyfrowych w poligrafii, autor i tłumacz publikacji fachowych dotyczących branży poligraficznej, obecnie zajmuje się problematyką zintegrowanej kontroli jakości procesów drukowania w ramach COBRPP.
Koszt uczestnictwa:
Koszt dla jednej osoby (wykłady, materiały, lunch, certyfikat) - 320,00 zł
Koszt dla członków SAIP PW: 240 zł
Przy zgłoszeniu (potwierdzonym przez SAIP) do 24 lutego - cena promocyjna: 270,00 zł.
Wpłaty (koszt uczestnictwa zgodnie z dniem rejestracji należy uiścić najpóźniej do 4 marca włącznie) przelewem na konto:
Stowarzyszenie Absolwentów Instytutu Poligrafii PW Warszawa, ul. Konwiktorska 2.
Konto w Alior Bank; numer konta: 27 2490 0005 0000 4500 3331 8422.
Ilość miejsc ograniczona.
Osobom zapisanym – zostanie wysłana agenda konfrontacji ok. 6 dni przed terminem konfrontacji oraz plan dojazdu i możliwością zaparkowania samochodu osobowego.
Serdecznie zapraszamy w imieniu Stowarzyszenia
Stefan Jakucewicz – email: sjakucewicz@absolwencipoligrafii.org, tel: +48 602-268-114
Andrzej Żurkiewicz – email: azurkiewicz@absolwencipoligrafii.org, tel: +48 730-191-910
Małgorzata Guraj – email: mguraj@ absolwencipoligrafii.org, tel: +48 730-008-176
Uczestników konferencji prosimy o zabranie ze sobą wizytówek i rejestrację przed konferencją.
Partner naukowy: Zakład Technologii Poligraficznych Instytutu Mechaniki i Poligrafii WIP PW
Zgłoszenia
Na podstawie informacji organizatorów
