Seminarium naukowe Instytutu Mechaniki i PoligrafiiPoprzedni artykuł 

Na Wydziale Inżynierii Produkcji odbędzie się seminarium naukowe Instytutu Mechaniki i Poligrafii dnia 30.01.2013 r. w Gmachu Nowej Technologii ul. Narbutta 85 w Sali Rady Wydziału NT 129 o godz. 10:15. Na seminarium zostaną zaprezentowane założenia oraz dotychczasowe wyniki badań mgr inż. Jacka Hamerlińskiego (pracownika Centralnego Ośrodka Badawczo-Rozwojowego Przemysłu Poligraficznego w Warszawie), realizującego pracę pod kierunkiem dr hab. inż. Yuriya Pyr'yeva, profesora PW. Proponowany temat pracy doktorskiej: „Metoda przewidywania naddatków technologicznych dla różnych offsetowych arkuszowych maszyn drukujących z użyciem analizy wymiarowej”.

Abstrakt
:

Celem pracy jest ustalenie związku pomiędzy parametrami zlecenia drukowania i własnościami używanej w tym zleceniu maszyny drukującej a wysokością niezbędnych naddatków technologicznych w trakcie procesu offsetowego drukowania arkuszowego. W pracy doktorskiej zaproponowano nowatorskie podejście do problemu oszacowania strat powstających na etapie drukowania z użyciem różnych maszyn drukujących, a w konsekwencji do przewidywania naddatków technologicznych dla tego procesu, wykorzystując model często stosowany w fizyce i inżynierii. Przyjęta metoda zakłada, że dzięki analizie wymiarów fizycznych zaproponowanych wyrażeń można określić warunki dynamicznego podobieństwa procesów, wyrażone odpowiednimi (bezwymiarowymi) liczbami podobieństwa, a następnie stosować tak opracowany model do dostatecznie podobnych procesów drukowania. Prawidłowe określenie naddatków technologicznych pozwala na właściwe obliczenie zapotrzebowania na podłoże drukowe, co oprócz dużego wpływu na cenę (koszt podłoża stanowi zwykle od 40 do 60% kosztu wykonania zlecenia) pozwala także na uniknięcie zbędnej makulatury i/lub braków w nakładzie.

Po określeniu funkcji opisującej ww. związek w postaci matematycznej można przeprowadzić porównanie pomiędzy różnymi możliwościami realizacji procesu produkcyjnego i określić, który z nich będzie optymalny dla danego wyrobu o znanej charakterystyce. Wszystkie stosowane obecnie metody prognozowania naddatków zakładają, że jedynym parametrem wpływającym na ich wysokość jest nakład zamówiony, a pozostałe parametry zlecenia oraz charakterystyki maszyn są uwzględniane jedynie pośrednio. W niniejszej pracy zaproponowano model, który dzięki większej liczbie parametrów pozwala dokładniej określić wysokość naddatków dla danego zlecenia, co ma wpływ na warunki i koszty eksploatacji maszyny drukującej.

W pracy przeprowadzono analizę kluczowych parametrów mogących mieć wpływ na wysokość naddatków technologicznych oraz zaproponowano postać funkcji wykorzystującej wyznaczone w trakcie tej analizy liczby podobieństwa. Opracowany model został zweryfikowany na podstawie informacji o rzeczywistych naddatkach technologicznych w pracach drukowanych w polskich zakładach poligraficznych, wykorzystujących różnorodne maszyny drukujące. Wyniki przeprowadzonych badań wskazują, że możliwe jest udowodnienie postawionych tez pracy. Jednocześnie przeprowadzono porównanie wyników dla maszyn o różnej konstrukcji i wyposażeniu, drukujących podobne zlecenia. Badania wykazały, że ma to wpływ na przyjmowane wysokości naddatków, a także że stosowane dotąd metody określania naddatków technologicznych dla maszyn o nowoczesnej konstrukcji prowadzą z reguły do zawyżenia liczby naddatków, a tym samym kosztów eksploatacji maszyny. Zaproponowany w pracy model pozwala na uwzględnienie tych własności maszyn podczas obliczania wysokości niezbędnych naddatków.

W pracy wykorzystano dane zebrane w trakcie realizacji projektu aktualizacji normatywów technologicznych dla drukowania offsetowego, realizowanego w Centralnym Ośrodku Badawczo-Rozwojowym Przemysłu Poligraficznego. Wyniki pracy mogą zostać zastosowane w praktyce do zaproponowania nowych standardów normatywów technologicznych dla współcześnie stosowanych offsetowych maszyn drukujących.

Na podstawie informacji ZTP WIP PW

 Produkcja: WebFabrika 1999-2024 | Kontakt | Regulamin | Polityka Prywatności